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A importância da associação entre a microscopia eletrônica de varredura (MEV) e o detector EDS. - 25/11/2009

A microscopia eletrônica de varredura (Scanning Electron Microscopy-SEM) tem sido amplamente empregada na caracterização de minérios. Sua grande vantagem consiste na observação direta de bordas ou contornos de grãos e, também, em seções polidas, e na caracterização de porosidade inter e intragranular. Bordas de grãos são locais onde se concentram um grande número de defeitos cristalinos. Nessas regiões estão presentes grandes números de poros e estruturas resultantes da atuação de diversos processos no agregado policristalino, incluindo diagênese (deformação e metamorfismo) e processos resultantes da exposição do minério aos agentes atmosféricos (intemperismo). Determinar as feições, atribuindo-as a cada processo específico, ou seja, caracterizar as microestruturas e identificar seus mecanismos formadores é um passo fundamental para se conhecer um determinado minério, bem como prever seu comportamento nas diversas etapas do seu beneficiamento e processamento industrial. Um outro aspecto importante na caracterização de minérios é a determinação de sua composição química. Os SEMs equipados com detectores de energia dispersiva de raios-x (Energy Dispersive x-ray Spectrometer - EDS ou EDX) são de fundamental importância na determinação da composição dos minérios. Com o SEM-EDS, é possível determinar a composição química pontual das fases minerais que compõem o minério, constituindo o EDS ferramenta indispensável na caracterização e distribuição espacial de elementos químicos. Elementos como Al, P, Mn, entre outros contaminantes podem muitas vezes estar presentes em fases minerais de tamanho muito reduzido, o que torna impossível sua identificação em microscopia ótica, ou por métodos de análises químicas de rocha total. Com SEM-EDS, a identificação pontual (1 µm) dessas fases passa a ser algo rápido e preciso. Pode-se inclusive determinar a distribuição espacial de elementos químicos (todos elementos químicos com massa atômica superior ao do boro e que estejam presentes em concentração superior a 1%) em toda a amostra analisada com geração de mapas composicionais de raios-x. Desta forma o CEOSP - Microscopia inicia uma nova fase da investigação científica e passa a ofertar os recursos da nanotecnologia para outras instituições, nas mais diversas áreas de atuação.

 
 
   
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